、石油制造、风电核电等行业。XD Laser?激光干涉仪是API公司的砖利产品，一次安装即可以测得六个参数，包括1个位置度误差，2个直线度误差和3个角度误差。通常需要数天进行的测试，使用XD Laser?激光干涉仪只需要几个小时就可以完成。实际应用结果表明，可节省时间高达80%。,API公司是由kam lau博士在自主砖利技术上基础之上创立的一家高科技公司。API公司位于美国国家标准与技术研究院NIST附近。API的激光跟踪仪广泛应用与汽车制造、航空航天、船舶制造、工程安装

德国LT公司研发生产的激光干涉仪，主要用于光学零件的面形检测。测量口径有100mm（4英寸）, 150mm（6英寸）, 300mm（12英寸）

内设有恒温室及两个万级的恒温无尘车间，作为精密仪器、关键部件的QC和生产组装用途，拥有两台美国API双频激光干涉仪作为公司的计量基准。18758415506易小姐,宁波怡信投影仪EP-1510 EP-2010 EP-2515适用于精密工业如模具、工具、螺丝、齿轮、钟表、自动车床加工、光学部件、航空等等工业的制造、设计开发、品管检验与学术研究用途。厂房

RENISHAW测头、RENISHAW测针、RENISHAW光栅尺、RENISHAW读数头编码器、RENISHAW无线球杆仪、RENISHAW激光干涉仪

OmniBER 718Agilent/HP 86120C光波长表东莞市启航电子科技有限公司联系人:何经理 手 机：13929231880 Agilent 86120C多波长计是基于麦克尔逊干涉仪,的仪器，可测量1270至1650nm波长范围的激光波长和光功率。它能同时测量多条激光线，测量DWDM信号和Fabry-Perot激光器的多个纵模。

畸变。其工作原理是将待测手机平板放于干涉仪的参考平面镜和标准反射镜中间，从标准参考镜反射的光和标准反射镜的光相干涉。干涉条纹则反映了手机面板摄像孔透射波前的好坏。,等）被透射或反射后的波形，它主要用于光学成像的像质评价。随着透射光学系统（如手机平板等摄像系统等）的成像质量要求越来越高，迫切需要高精度的光学玻璃透射波前的检测手段。高精度的检测方法主要是用干涉法检测波前

激光干涉仪测量系统的三维角度器 - 同样适用于直线度激光测量系统! (BG 840260)该角度器内置可旋转的3D棱镜（180°的范围内每次旋转15°），激光干涉仪测量系统通过该角度器可非常便捷地进行2轴测量。

JDJ 激光测长机产品特点 底座采用**铸铁制造，箱体式封闭结构，具有足够的刚性和稳定性；测量基准采用Renishaw激光干涉仪,设计上完全符合阿贝原理，从而能达到较高测量精度；测长机带有

852nm可调谐激光管：852nm Mercury系列高功率、边发射激光二极管是基于Photodigm公司先进的单频率激光芯片技术设计而成。主要应用于Cs原子钟、重力计、磁强计、原子干涉仪、太赫兹,等领域。852nm单频激光二极管符合MIL883**标准，已大量应用在航天领域。该激光二极管采用TOSA封装，带有软性连接线，激光线宽小于1MHz，输出功率40-280mW，无跳模调谐范围宽，稳定性好,，更加方便用户使用。调制频率可达6.8GHz（for putting sidebands on the laser)。【852nm可调谐激光管】

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激光光纤干涉综合实验仪熟悉光纤马赫-曾德尔及迈克尔逊干涉仪的工作原理，并通过自已搭建光路，掌握光路的调整方法。 2、掌握一种用激光干涉条纹测微小量变化的方法。 3、将光纤分别用在压力、位移、温度场内，观察干涉条纹变化。二、仪器配置与技术参数 1、外接电源：220V，50Hz 2、温度传感： 1）、

接触式激光干涉测头 接触式激光干涉测头的简单介绍：lm系列激光干涉测头属于精密测长仪器，是首先实现在0 - 20mm或0 - 50mm范围内进行纳米级精度接触式长度测量的激光干涉仪。其设计紧凑的测量头和8h6的测杆套筒,与传统长度测量系统兼容。微型光机电集成干涉头将电机驱动的测头的位移转换为光学干涉信号，经由光缆传入光电信号处理/电源供给单元进行处理并输出为长度值。

此款光学移相器（光学相位延迟器）可加适用适当的电压，使激光或其他光束实现相位延迟，延迟相位范围宽广。同时适用的波段范围宽。适用于偏振控制，干涉仪，以及其他各种应用及研究。

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