Omni多角度纳米激光粒度仪及高灵敏度Zeta电位分析仪 Omni多角度纳米激光粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪**结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15,°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的**测量，是目前市场上功能*强大的纳米激光粒度仪与Zeta电位分析仪。

激光粒度分析仪/激光粒度仪(干法） 型号：HAD-BT-2001HAD-BT-2001激光粒度分析仪是国内**的干湿法两用的高性能激光粒度仪。干法制样系统包括静音空压机、空气过滤器、全自动干法

Winner801激光粒度分析仪 先进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些,颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性。

全自动湿法激光粒度分析仪先进的光路设计：JC517-5100采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在*短的焦距获得*大量程，有效提高仪器的分辨能力；独特的高密度探测单元，让5100拥有了超强的小颗粒测试能力，高密度探测单元使用JC517-5100具有超强的全量程无缝测试能力全自动湿法激光粒度分析仪。

广泛适用于材料、化工、制药、精细陶瓷、造纸、化妆品、冶金等行业以颗粒物作为生产原料或中间体的实验室分析和工业生产中质量控...

全自动激光粒度分析仪 HAD-5100H HAD-5100H激光粒度分析仪主要性能特点：先进的光路设计：HAD-5100H采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在*短的焦距获得*大量程，有效提高仪器的分辨能力；独特的高密度探测单元，让5100-H拥有了超强的小颗粒测试能力

Malvern激光粒度仪Mastersizer 2000,是先进的激光衍射技术与高度实用的常规颗粒表征的**结合 - 它已成为全球实验室粒度分析的*佳选择。该仪器采用全自动化操作，能够测量粉末、悬浮物质和乳状液，并根据标准化程序得出可靠的测量结果。

激光粒度分析仪简单介绍工作原理全量程米氏散射理论　Rise-2006 型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑了分散介质和被测颗粒的折射率，结合**的测量装置，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化来反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。

DT306-R1001型--湿法激光粒度分析仪 激光粒度分析仪详细介绍 仪器简介:DT306-R1001型全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准，依据静态容量法测量原理