库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 3000 GALVANOTEST 3000
库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 3000

德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 3000,应用库仑电量分析原理。其过程类似于电,但电化学反应的方向相反,是电解除。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。

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德国EPK GALVANOTEST 3000库仑镀层测厚仪 GALVANOTEST 3000
德国EPK GALVANOTEST 3000库仑镀层测厚仪

德国EPK公司GALVANOTEST 3000库仑镀层测厚仪简介:   ? 可测实际应用的所有镀层? 利用库仑电量分析原理,测量镀层、多镀层? 符合国际标准:DIN EN ISO 2177

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库仑镀层测厚仪 2000/3000
库仑镀层测厚仪

库仑镀层测厚仪GALVANOTEST? 可测实际应用的所有镀层 ? 利用库仑电量分析原理,测量镀层、多镀层 ? 符合国际标准:DIN EN ISO 2177

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DJH-G电解测厚仪(笔记本电脑) DJH-G
DJH-G电解测厚仪(笔记本电脑)

DJH-G电解测厚仪(笔记本电脑)测量方法; 阳极溶解库仑法,符合ISO2177标准测量原理; 利用法拉第原理设计,其过程类似于电,但电化学反应的方向相反,是电解除库仑法测是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解,通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及需时间来进行镀层度的测量

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电解测厚仪 HN-T
电解测厚仪

电解测厚仪微电脑多功能电解测厚仪是*新一代的金属镀层电解测厚仪,该器是根据电化学中的库仑定理(Q=nF)与现代微电脑技术结合的产物,具有结构先进,性能稳定可靠,功能齐全的特点。对多数非合金型金属,镀层度的测定适用,是国际标准中首推的一种镀层方法—库仑法类器。使用本器还可以帮助用户找到适合不同要求的*佳电工艺,是有关成品厂及电厂必备的器。

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DJH-G电解测厚仪 DJH-G
DJH-G电解测厚仪

DJH-G电解测厚仪测量原理:采用阳极溶解库仑法,符合ISO2177标准及ASTM B764标准,可测量金属、塑胶、钕铁硼等基材上铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉等金属镀层,镍合金镀层,复合镀层(如Cr/Ni/Cu)及多镍镀层

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GALVANOTEST2000 库伦镀层测厚仪  GALVANOTEST2000
GALVANOTEST2000 镀层测厚仪

GALVANOTEST 库仑镀层测厚仪,应用库仑电量分析原理,可以用于测量几乎所有基体上的电镀层度。基体包括钢铁、有色金属、以及绝缘材料。例如铁上镍、铁上锌、铜上银、和环氧树脂上的铜等等。

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宁波ET-1电解测厚仪  微电脑型电解测厚仪
宁波ET-1电解测厚仪 微电脑型电解测厚仪

微电脑型电解测厚仪 ET-1型微电脑多功能电解测厚仪是*新一代的金属镀层电解测厚仪,该器是根据电化学中的库仑定理(Q=nF)与现代微电脑技术结合的产物,具有结构先进,性能稳定可靠,功能齐全的特点。

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GALVANOTEST  德国EPK(Elektrophysik)库仑镀层测厚仪
GALVANOTEST 德国EPK(Elektrophysik)库仑镀层测厚仪

德国EPK(Elektrophysik)库仑镀层测厚仪GALVANOTEST应用
可测实际应用的所有镀层
利用库仑电量分析原理,测量镀层、多镀层
符合国际标准:DIN EN ISO 2177

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库仑镀层测厚仪
库仑镀层测厚仪

GALVANOTEST 库仑镀层测厚仪,应用库仑电量分析原理,可以用于测量几乎所有基体上的电镀层度。基体包括钢铁、有色金属、以及绝缘材料。例如铁上镍、铁上锌、铜上银、和环氧树脂上的铜等等。

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KH.1-HNE  电解测厚仪
KH.1-HNE 电解测厚仪

测量原理;利用法拉第原理设计,其过程类似于 电,但电化学反应的方向相

反,是电解除库仑法测是对被测部分的金 属镀层进行局部阳极溶解,通

过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时 间来进行镀层度的测量

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微电脑多功能电解测厚仪ET-2 型
微电脑多功能电解测厚仪ET-2 型

宁波凯诺器专业销售ET-2微电脑多功能电解测厚仪,ET-2型微电脑多功能电解测厚仪,是国际标准中首推的一种镀层方法一库仑法类器。使用本器可以保障用户单位的产品质量,防止原材料的能源的浪费,。帮助用户找到适合不同要求的*佳电工艺。我公司有销售有标准机,电脑机,有电位差型,型号:ET-01,ET-02,ET-03,HQT-IA,HQT-IB,HQT-IC品种多,产品全,欢迎新老客户来电咨询!

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