三槽式冷热冲击试验机 KD系列
三槽式冷热冲击试验

三槽式冷热冲击试验机以待测物品完全静止方式来测试因高低温急速变化而对产品是否造成**的影响。结构设计为蓄热槽、测试槽、蓄槽三部分,被测试物品静止置放于测试室内,可选择2区或3区之测试功能。三槽式冷热冲击试验机一般用于电子电器零部品、汽车零件及高科技产品等需要苛刻的环境条件测试及高信耐性需求的检验。

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两槽式冷热冲击试验机 HJ系列
两槽式冷热冲击试验

两槽式冷热冲击试验机采用吊篮式结构,上部为高温箱,下部为低温箱,冲击方式采用高温箱,低温箱静止, 试料部件通过上下移动之吊拦快速移动到高、低温箱内,从而实现冷热冲击测试目的.

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冷热冲击试验箱/冲击试验箱 JH-80
冷热冲击试验箱/冲击试验

冷热冲击试验箱/冲击试验箱用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高,、低温的反复抵拉力及产品于热胀缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具

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冷热冲击试验箱 BE-CH
冷热冲击试验

冷热冲击试验箱用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。

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日本OYO触摸屏控制器 OYO
日本OYO触摸屏控制器 OYO

日本OYO触摸屏控制器适用于冷热冲击试验箱上的温湿度智能控制器。应用范围:温度控制、湿度控制、程序控温控湿、环境试验机。

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三槽式冷热冲击试验箱 BE-CH-252A
三槽式冷热冲击试验

三槽式冷热冲击试验箱不需要使用液态气体(LN2LCO2)辅助降温,待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试用,研究用以及半导体生产线大量筛选用,可大量节省耗材测试费用。操作快捷、高信赖,是本公司经多年潜心倾力研究,开发高性能试验机,提供您长期可靠的试验工具。

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冷热冲击试验机 CZ-150D
冷热冲击试验

采用触控式图控操作介面,操作简易。设备区分为高温区、低温区、测试区三部分,各区之箱体采独特之断结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时,*大时间可达,9999分钟,*大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击啟始。却采二元冻系统,降温效果快速,却方式为水式。

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冷热冲击试验箱 TMHS-100
冷热冲击试验

高低温冲击箱分为高温区,低温区,测试区三部分,采用独特之断结及蓄,蓄效果,TMHS系列冷热冲击试验箱采用冷热风路切换方式导入试品中,做冷热冲击测试。

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高低温冲击试验箱 BH-TST
高低温冲击试验

高低温冲击试验箱(温度冲击试验箱,冷热冲击试验机,Programmable Thermal Shock Tester)用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下,的适应性试验。式两箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录,设有多种**保护措施及装置。

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三槽式冷热冲击试验机 JS-812B
三槽式冷热冲击试验

三槽式冷热冲击试验机产品用途:用来测试复合材料及材料结构,在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,即以在*短时间内试验其因热胀缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子...等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

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冷热冲击试验机 A~D
冷热冲击试验

材料的冷热冲击性能测试。

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LRHS-010B-LV温度冲击试验箱标准 LRHS-010B-LV
LRHS-010B-LV温度冲击试验箱标准

LRHS-010B-LV温度冲击试验箱标准采用立式体、冷热两箱,采用提篮转换试品所在实验区域的方法,达到冷热冲击试验目的;这种结构*大限度减小了冷热冲击时的负荷,缩短了温度回复时间,也是*可靠、*,节能的一种冷热冲击的方式。温度误差:±3℃升温速率:从常温~150℃≤25min(全程平均)降温速率:从常温~-20℃≤15min(全程平均)低温极限温度:≤-25℃

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展位咨询:0756-2183795