![](/content/images/supplies/inquerys.png)
![HELOS-SUCELL湿法激光粒度仪](http://y2.yzimgs.com/uploads/174614/18show_chem1751624.jpg)
根据“干样干测,湿样湿测”的测试理念,如果被测量的物料是浆料、悬浮液或乳浊液等,德国新帕泰克公司提供以下不同型号的湿法激光粒度仪来测试物料原始状态下的粒度分布:1:HELOS-SUCELL 标准,湿法激光粒度仪2:HELOS-QUICEL 快速湿法激光粒度仪3:HELOS-CUVETTE 小样品池湿法激光粒度仪三者共享激光系统HELOS,可根据客户不同的需要进行组装。
![激光衍射式粒度分布测定装置SALD-2101 SALD-2101](http://y1.yzimgs.com/uploads/174221/TN_C11717.jpg)
SALD系列中的标准型号,在日本创下*高销售量的SALD-2000系列的新一代机型。重视与SALD-2000系列间的数据连续性和兼容性。
岛津公司其激光粒度分…
![Rise-2006激光粒度分析仪](http://y1.yzimgs.com/uploads/173593/18show_chem1755536.jpg)
Rise-2006型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。
![颗粒图像分析系统 JX-2000](http://y3.yzimgs.com/uploads/145443/2012071110464987.jpg)
的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据,配有(30)多种图像分析和处理功能,可以满足各种图像处理需要。,JX-2000型颗粒图像分析系统,能准确直观颗粒形貌,并进行颗粒数据处理,适用于控制分析产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。提供等面积和等周长两种基准下
![激光粒度分析仪](http://y3.yzimgs.com/uploads/340937/20091204041443.jpg)
激光粒度分析仪采用偏振光强度差**技术:当颗粒粒径小于0.4微米时,单靠散射图像很难区分不同大小颗粒的信号差异,以致微小颗粒的粒度分布分析失去准确及可靠性。LS13320利用多波长 / 偏振光的散射,原理,能够准确分析微小颗粒的分布。粒度不同的颗粒在六个角度对900nm、600nm、450nm波长的水平和垂直偏振光有明显的强度差异和特征,以此形成的光强差曲线采用米氏理论计算亚微米颗粒粒度。
![A22激光粒度仪纳米型干法机](http://y2.yzimgs.com/uploads/340858/20091203145407.jpg)
这是世界上首台在测量粒径分布的同时融合了粒形辨别的激光粒度仪。两个独立的导向轨确保了双重测量线路,在一台仪器中具有一个干法测量单元和一个湿法测量单元。这台双重测量方法的仪器包括湿法和干法的分散。这台仪器包括干法的分散。
![激光粒度仪/激光粒度分布仪 M314030](http://y1.yzimgs.com/uploads/336318/2009090308374799.jpg)
分布仪系统是集光、机、电、计算机为一体的高科技产品,它采用进口半导体激光器,寿命长,单色性好;先进的机械设计与加工工艺和微电子集成电路技术;高灵敏度的光电池接收系统,全程米氏理论作为基础,结合优异的计算方法。使测试数据更加**,快捷;是目前国内比较经济实用的一款激光粒度分布仪。