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膜厚计 日本SANKO 三高膜厚计

日本KETT涂层测厚仪 >> W系列膜厚计采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）以及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

P.I.G.破坏式膜厚计 商品名称： P.I.G.破坏式膜厚计 原 产 地： 美国, --------------------------------------------------------------------------------P.I.G.破坏式膜厚计(铝钢外壳) 规格:测试范围:No: 1 0 - 2500 um/ 一小格 20umNo: 2 0 - 1250 um/ 一

特点：LZ990*新型的磁性和涡流两用型膜厚计。中、英、日、韩等语言显示。自动识别磁性和非磁性基体,USB接口输出,选配件后可连接电脑.可存储1000个数据.测量范围大,可达到2000um,手动,自动开关机.

CT-2，日本膜厚计 实用型电解式膜厚计产品简介： CT-2:1.解析度：0.001um。2.镀层*多可设定四层，可各层各别统计处理列印。3.合金属及线材测试具体有自动演算，有直读功能。4.符合ISO、JIS、ASTM、MIL、DIN等规范。5.适用行业：汽车自行车业、电镀业、实验室、品检单位。COSMOS-1X：

上海耀壮公司专业代理销售英国易高Elcometer345涂层测厚仪|Elcometer345漆膜测厚仪/膜厚计：具有整体式与分离式两种形式探头，可测量铁基（F）、非铁基（F）或铁基及非铁基（FNF）材料的涂层厚度，总会有一种仪器满足用户的各种要求。

CT-3 普及型电解式膜厚计

TT220测厚仪 供应时代漆膜测厚仪，时代测厚仪，漆膜测厚仪，涂层测厚仪，测厚仪，TT220时代漆膜测厚仪。光学检测仪器（显微镜、经纬仪、水准仪、工业 用投影仪等）。实验仪器及装置（各种材料试验机、硬度计、电子天平等）、自动化仪表及系统（测温、测压类仪表，物位仪表）。

日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性测厚方法。日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬,、珐琅、橡胶、油漆等）。日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

菲尼克斯进口Surfix N非铁基膜厚计，有基本型和统计型两种型号，统计型带有统计功能，能够自动计算*大值、*小值、平均值。测量量程均为0-1500μm，菲尼克斯进口Surfix N非铁基膜厚计是一款专门用于需要进行高精度测量场合的一体式干膜测厚仪。

WBLH-200J 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLH-200J 本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

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Leeb221涡流涂层测厚仪 油漆测厚仪 膜厚计 镀层测厚仪测头类型 Leeb220 Leeb221 Leeb222 测头类型 F1 N1 F1或N1 工作原理 磁感应 电涡流 磁感应或电涡流 测量范围