测厚仪 CHY-10
厚仪

器是采用高精度数显千分表测量塑料薄及薄片的专用器。具有测量精度高、数据稳定可靠等特点,同时还可进行英吋和毫米之间变换。

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SSKD207型压力变送器 SSKD207
SSKD207型压力变送器 SSKD207

SSKD207型压力变送器采用了德国*先进的电子式陶瓷传感器,无中介液的干式测量技术。在片生产中采用了电路和光刻技术对片进行了良好的线性补偿,使表获得很高的测量精度和稳定性。

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专门针对玩具的专用ROHS检测仪 ED-05T
专门针对玩具的专用ROHS检测

ED系统能够快速分析用100秒可以同时测定WEEE/RoHS.ELV/玩具(Cd、Pb、Hg、Br、Cr、Ba、As、Sb)8种元素. 测定对象: 固体、液体、粉体 测定元素范围: Cl~U等元素 对电镀品的及食物/生物体内的重金属可以进行测试 对塑料测试时间仅为50秒.

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德国EPK涂/镀层测厚仪MIKROTEST-G6 涂/镀层测厚仪MIKROTEST-G6
德国EPK涂/镀层测厚仪MIKROTEST-G6 涂/镀层测厚仪MIKROTEST-G6

涂/镀层测厚仪MIKROTEST-G6 ·YG不锈钢圆筒式滤器 ·不锈钢微孔滤单层滤器 ·不锈钢微孔滤双层过滤器·不锈钢桶式滤器 ·142 & 293型不锈钢板式滤器 美国PALL ·不锈钢单层滤器 上海 ·不锈钢正压滤器 更多

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涂膜厚度测定仪 CTG-100
度测定

Canneed “CTG-100涂度测定Coating Thickness Gauge” ,用于测量金属罐和金属板材的涂度(单位面积的涂重量,单位为g/m2)。配置平板检测夹具可以测量,平板涂度,配置罐身检测夹具可以测量罐身涂度。使用标准涂板(已知涂重量的样板,单位为g/m2)校准器,可检测不同类型涂度。检测结束后,同时显示检测结果及涂层类型号码。检测结果可通过内置数

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膜厚仪 ROHS X-STRATA980
ROHS

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更

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英国CMI700测厚仪(膜厚仪) CMI700
英国CMI700测厚仪()

SD06型自动冲孔机 技术参数: 冲孔直径:Φ1-Φ5mm(标配)(定制可更大) 显示器:8...

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EX-3000荧光X-Ray膜厚仪 EX-3000
EX-3000荧光X-Ray膜厚仪

适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。

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贴片电阻器 AR,FCR,RCA,RCN等
贴片电阻器 AR,FCR,RCA,RCN等

超精密贴片电阻AR系列,温度系数只有±5ppm~±50ppm,超精密性±0.01%~1%,TaN 和 Ni/Cr 真空镀,常应用于医疗设备,精密量测器,电子通讯等。

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CMI150涂层测厚仪/膜厚仪  CMI150
CMI150涂层测厚仪/膜厚仪

CMI150涂层测厚仪/膜厚仪 品牌:英国牛津 涂层测专家,双功能技术,完成磁感应和电涡流测量自动转换。 CMI150测厚仪应用双功能测量技术,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方式,,适用于各种测量环境。CMI150可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的度。 此款轻巧、多功能、单手操作的测厚仪,配有一个便携式配腰带弹夹的皮套,结实耐用的设计使您

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颜色、涂膜检测仪器采购洽谈
颜色、涂检测器采购洽谈

邀请函地址:http://www.tayole.com/letter.htm 深圳市天友利标准光源有限公司 深圳市天利泰路科技有限公司 1、英国牛津器CMI测厚仪中国地区授权一…

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易高Elcometer126 & 3240干、湿膜测厚仪 Elcometer126B—M
易高Elcometer126 & 3240干、湿厚仪

易高Elcometer126 & 3240干、湿厚仪如需详细资料,请登陆我司网站http://www.tintron.com这些器容易操作,是设计用于测量涂层度的。干:由2个固定点(或外部,管套)和一个中心活动传感器,给出的涂层表面和基体光面的高度测量值的差,就是干度。湿:在器上部有一个带凸边的螺钉,可使探头在500μm范围内伸缩变化,直到探头接触到层。基体上的

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厚膜铂电阻 YK-WWDY-02
铂电阻

热(冷)量表由流量传感器、配对温度传感器和积分三部分组成。温度传感器的精度和长期稳定性对热(冷)量表 的品质有重要影响,尤其是长期稳定性(即可靠性)对要求五年使用期的热(冷)量表则影响更为深远。长期稳定性是我公司铂电阻*为突出的优点.

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镀膜测厚仪 薄膜测厚仪 纳米厚度测量仪 镀层测厚仪 纳米测量仪 光学纳米测试仪 ST2000
厚仪厚仪 纳米度测量 镀层测厚仪 纳米测量 光学纳米测试

度测量适用于研发和半导体,FPD,纳米技术,电子材料及特殊薄生产线中的薄测量.例如在半导体行业,需根据图样**地获取晶圆表面的各个薄沉积。薄测量系统是用来监控工序并通过测量薄度决定,产品的质量。 测量薄度有许多种方法。其中*常见的是基于机械技术的触针方法,显微镜技术和光学技术。 韩国科美公司的薄度测量系统,采用的是光学技术方法。因而由薄表面的反射光和基板表面反射光

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