PCE-PI系列热成像仪
PCE-PI系列成像

PI根据物体的红外线放射能计算其表面温度。利用二维检测器(FPA – 焦平面阵列)可以对某一区域进行测量,并利用标准化的调色板将其显示为图像。辐射处理的图像数据使用户能够利用PI连接软件轻松地进行详细分析。探测器为非制冷焦平面( 25 ×25微米)。

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