LT-2型单晶少子寿命测试仪 LT-2型单晶少子寿命测试仪
LT-2型单晶少子寿命测试仪 LT-2型单晶少子寿命测试

LT-2型单晶少子寿命测试仪 LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

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按键寿命测试仪,手机按键寿命测试仪,电子产品按键寿命测试仪,电子词典按键寿命测试仪,DVD按键寿命测试仪,键盘按键寿命测试仪,按钮按键寿命测试仪,按键寿命测试 BL-505,BL-050E
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手机滑盖寿命试验机   YL-101
手机滑盖寿命试验机

本机能够模拟人手打开和关闭手机滑盖时的动作,能够进行长时间的往复推动滑盖做前后运动,以测试手机经过多次滑盖的打开和关闭功能以后,滑盖弹簧、滑盖挠性电路板品质是否可靠

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插拔寿命机 插拔寿命测试仪 OX
插拔寿命机 插拔寿命测试

插拔寿命机 插拔寿命测试仪本机适用于多种连接器插拔试验之用,可显示插拔力连续变化值和峰值,并具有次数设定,速度行程可调,并且显示速度值,可谓目前市场上*高性价比之插拔力试验机。结构美观大方。

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KON-RBL(D)钢筋位置测定仪 KON-RBL(D)
KON-RBL(D)钢筋位置测定仪 KON-RBL(D)

KON-RBL(D)钢筋位置测定仪★ 带有路径扫描功能,国内外**扫描小车和探头的插接方式,极大的方便用户使用,也保证了探头的移动方向和测试精度;★ 采用耐磨材料设计的探头外壳,大大提高了探头的使用寿命

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单点式按键寿命试验机 AP-8682
单点式按键寿命试验机

单点式按键寿命试验机:适用于手机、计算器、PDA等小产品做按鍵的寿命疲劳试验,从而可预知按键性能品质。独特的侧键击打功能,尤其适合手机按键的测试

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低温测试箱 DW -800
低温测试

均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。低温试验箱升温、降温、系统完全独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。,低温测试箱的制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计,风压、风速

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HP-A系列转轴扭力测试仪 HP-A系列
HP-A系列转轴扭力测试

■ HP-A系列扭力测试仪是一款经过特殊设计的长寿命的扭力测试仪(转轴扭力测试仪)。该款仪器可承受每天多达上万次的扭力测试,是碟机制造行业不可缺少的扭力测试器。适用于笔记本电脑、数码相机、手机等相关制造行业。

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3MWDW─10/200型三自由度刚度测试系统 3MWDW─10/200
3MWDW─10/200型三自由度刚度测试系统

3MWDW─10/200型三自由度刚度测试系统主要用于构件的拉、压、剪、纯弯矩、扭矩的静刚度测试,也具有一般常规微机控制万能试验机的测试功能。本机主体部分采用目前成熟的结构,性能稳定可靠,寿命,长。由于巧妙的采用了弯扭试验装置附件,在同一驱动控制机构的作用下实现了拉、压、剪、纯弯矩、扭矩的静刚度测试,大大简化了机械结构和控制器件,提高了可靠性。

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按键荷重耐久试验机 CRS-S608
按键荷重耐久试验机 CRS-S608

按键荷重耐久试验机,按键寿命试验机 按键寿命测试验机 热斑耐久试验机 按键试验机 手机翻盖寿命试验机 轴承寿命试验机 手机滑盖寿命试验机 开关寿命试验机 寿命试验机 手机寿命试验机

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臭氧老化试验箱 ZY-CY-50
臭氧老化试验箱 ZY-CY-50

‘臭氧老化试验箱’用于测试橡胶及其制品的耐臭氧老化性能的测试, 臭氧在大气中的含量很少却是橡胶龟裂的主要因素,臭氧老化箱模拟和强化大气中的臭氧条件,研究臭氧对橡胶的作用规律,快速鉴定和评价橡胶抗臭氧老化性能与抗臭氧剂防护效能的方法,进而采取有效的防老化措施,以提高橡胶制品的使用寿命

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展位咨询:0756-2183795