仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。...

椭圆偏振显微实时成像分析技术是在传统的消光（null）和离消光（off-null）椭圆偏振法基础上，结合数字处理技术发展出来的、旨在实时获取纳米尺度结构的表面或界面信息和纪录快速动力学过程的测量和,显示技术。 通过把椭圆偏振法与显微镜法相结合，椭偏光学成相系统保留了传统椭偏法对厚度测量具有高灵敏度的优点，并且具有测量面积大、取样速度快、横向分辨率高和结果直观等优点。其平面精度已经能够达到1μm，立体

该仪器价格一共52000元，包含主机一台，全部USB接口全自动测量。同时测量镀膜和折射率...

Auto SE 新型相调制椭圆偏振光谱仪

自动椭圆偏振测厚仪

自动椭圆偏振测厚仪

德国nanofilm椭圆偏振仪/成相系统/椭偏仪

圆偏振、椭圆偏振、线偏振等状态之间井进行变化，同时光弹调制器（PEM）还可以使光在**、右旋两种状态之间进行切换,美国Hinds Instruments, Inc公司是世界**的（同时也是世界**的一家）具体而言即，光弹调制器（photoelastic modulators）通过对线偏振光添一定的相位使输出光在

EM23自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比，该仪器采用半导体激光器作为光源，稳定性好，体积更小

HORIBA 椭圆偏振光谱仪 HORIBA 椭圆偏振光谱仪Auto SE & Smart SE 是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特征分析报告：包括薄膜厚度, 光学常数， 表面粗糙和薄膜的不均匀性，反射率和透过率.

椭圆偏振测厚仪在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加**和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。