X荧光测硫仪/X荧光测硫仪是用于建材、煤、石油、冶金、采矿等工业的定量分析仪器，主要用于测量水泥、煤、石油及其产品、碳黑等材料中的全硫（S）的含量。由于它采用物理分析方法，具有分析速度快、精度高

DS-303P 数字储存示波器：长方型，6吋对角线，内部刻划加速电压：约2KV显示面积：8x10div(1div=1cm)荧光剂：P31垂直放大：灵敏度：x1时：5mV/div~5V/divx5时：1mV/div~1V/div以1-2-5顺序排列共10檔

能量色散X射线荧光光谱仪配置W阳极X射线管，辐射线经过适当的准直和过滤。阳极辐射落到样品表面直径3mm的区域，激发样品所含元素的特征荧光辐射。发出的荧光辐射由热电系统冷却的高分辨Si(Li)固态

镀层测厚仪,X光测厚仪,电镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪, 镀层膜厚仪,X射线荧光金属镀层测厚仪, X射线荧光分析仪, X射线荧光检测仪等等,XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪 ,此仪器分为3种型号:XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L镀层测厚仪,XRF-2000PCB镀层测厚仪. 此仪器又叫: X射线镀层测厚仪,金属

X荧光硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040和GB 11140的相关要求,也完全符合更为严格的美国国家标准D 4294-03

X荧光光谱分析仪 技术指标及功能: 2.1.1. 电制冷半导体探测器；分辨率：155±5电子伏特2.1.2. 对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步,放大。 2.2 X 光管: 技术指标及功能: 2.2.1. 使用寿命大于5千小时2.2.2. 产生对样品激发X射线

玩具ROHS检测仪(能量色散X荧光光谱仪)，针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 提供专业玩具**检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析

X荧光光谱仪测量元素：从硫到铀等 75 种元素元素含量分析范围：1ppm-99.99% 。X荧光光谱仪

GNR ,26年来始终在定义XRF的标准自1991年以来，GNR一直专注于X射线荧光光谱仪的研发和制造，伴随这全球废旧金属的兴起，金属材料判定 的成熟，环境检测的标准化，GNR始终**这全球XRF

德国布鲁克X射线荧光光谱仪S8 DRAGON适用于金属生产流程控制的**、高速元素分析，是一台真正同步的 XRF 光谱仪。