厚度测量仪 MicroProf TTV
产品简介
德国FRT公司生产的MicroProf TTV **厚度测量系统,厚度测量仪 除对**厚度进行测量外,还可以进行2D/3D轮廓测量、粗糙度等测量;广泛应用于半导体晶片、光学零件、金属薄片厚度检测等等
产品详细信息
厚度测量仪技术特点:
■ 双白光色差传感器
■ 垂直分辨率小于10nm
■ 全自动循环测量分析
■ 测量**厚度,2D/3D轮廓、粗糙度测量
■ 多种测量传感器可选
德国FRT公司生产的MicroProf TTV **厚度测量系统,厚度测量仪 除对**厚度进行测量外,还可以进行2D/3D轮廓测量、粗糙度等测量;广泛应用于半导体晶片、光学零件、金属薄片厚度检测等等
厚度测量仪技术特点:
■ 双白光色差传感器
■ 垂直分辨率小于10nm
■ 全自动循环测量分析
■ 测量**厚度,2D/3D轮廓、粗糙度测量
■ 多种测量传感器可选