萤光X-RAY膜厚仪 EX-3000
产品简介
萤光X-RAY膜厚仪特性:1. 采用中文窗口操作系统,操作性简便。2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、 铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。
产品详细信息
萤光X-RAY膜厚仪
特性:
2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。
3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、 铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。
4. 油浸式微小焦点X线管,50KV管电压,由上而下垂直照射方式。
5. 采用多频分析器,可快速处理能谱分析,可执行测定物之能谱分析表示,操作简单。
6. 滤波器:采用Co、Ni金属及数字式滤波器,可单一或同时使用。
7. 准直器:采用5种孔径一体式之Collimator(可设定任意切换方式)。
8. 彩色样品观察系统,附有+字刻度线,清楚显示测定位置。
9. 客户、各部品番号、批号,可登录在频道内,共有300个测量频道数。
10.自动测定测量台,可使利用鼠标或摇杆来输入及调整测定位置,可登录储存100组自动测定频道,可作坐标补正及频道连结。
11.采用中文窗口作业软件,设计及打印测量报告,插入测量位置的彩****、非常容易。