超薄膜附着强度测试仪 CSR-2000

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产品型号：CSR-2000

品牌：其它品牌

公司名称：RHESCA上海代表处

所在地：上海卢湾

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产品简介

基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。

产品详细信息

超薄膜附着强度测试仪

基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。

超薄膜附着强度测试仪的概要及特点

超薄膜附着强度测试仪的概要

原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面的原子的结合数会直接影响到膜的密着强度。这个结合数，受分子的能量状态、基板的清洗状态等的影响。在与成膜有关的研究开发机工程管理中，可使用本设备进行密着强度的评价。

以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成破坏点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的破坏点很难检测出来。为解决这个问题，采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。*适合评价液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜、DLC、磁盘的保护膜等的附着强度。

超薄膜附着强度测试仪的特点