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产品资料

Noiseken(噪声研究所)HBM-M 人体模型试验 (HBM)[产品打印页面]

Noiseken(噪声研究所)HBM-M 人体模型试验 (HBM)
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:Noiseken(噪声研究所)HBM-M 人体模型试验 (HBM)
  • 产品型号:HBM-M
  • 产品展商:NoiseKen
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简单介绍
Noiseken(噪声研究所)HBM-M 人体模型试验 (HBM) Noiseken(噪声研究所)HBM-M 特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。
产品描述
 Noiseken(噪声研究所)HBM-M

特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。
半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。
对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带电型的试验。还有,可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。
*适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。
精密型支架

 

 专业销售/收购/维修二手仪器设备
手机:/李汉明,曾S,Q308966

 

  • 可做*高输出电压±8KV 试验(ESS-6008)
  • 可做出留有余量的试验
  • 可对各种间距的受测元件进行静电施加试验
  • 可搭配精密测台,以半自动(Y 轴)的脚位移动而正确的对待
  • 测物施加静电
  • 可做*低试验电压±10V 的试验(ESS-6002)
  • 对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加
  • 可对应规格 

 

对应标准

 

人体模型试验 (HBM) 机械模型试验 (MM)
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002 IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
IEC 60749-26 Ed.1.0 2003 IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
JEDEC JESD22-A114E Jan 2007 JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989  
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