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产品资料

**型高低温冲击试验箱

**型高低温冲击试验箱
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:**型高低温冲击试验箱
  • 产品型号:BE-CHK-150
  • 产品展商:贝尔
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
**型高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料 对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品 质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
产品描述
**型高低温冲击试验箱规格
一、产品名称:
  1.01.名    称:冷热冲击试验箱
  1.02.型    号:BE-CH-150B
二、容积和尺寸:
  2.01.容    积:150L
  2.02.内箱尺寸:W600  X H500  X D500mm
  2.03.外箱尺寸:W1800 X H1900 X D1650mm;
三、用途 
       用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料
 对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品 质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
、性能特点:
4.01.气动式阀门方便开启,保证气密及断热保护;
4.02.试验槽完全静止,可由测试孔外加负载配线;
4.03.蓄能方式可避免使用者职业伤害;(注:液态气体所产生的废气,吸入肺部致使肺部氧
     气量减少,而产生工作倦怠,注意力不集中等)
4.04.采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器,操作简单,学习容易;
4.05.温度制御精度高,全部采用PID自动演算制御;
4.06.可选择始动位置,高温或低温开始循环;
4.07.具有预约起动功能;
4.08.可设定循环次数及自动除霜;
4.09.运动状态显示;
4.10.有异常或者故障显示及排除方法说明;
五、符合标准:
    GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150等
六、控制方式与特色
      利用低温及高温蓄冷热储存槽,依动作需要打开DAPER,达到快速冲击效果;平衡调温控
      制系统(BTC),以P.I.D.方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能长期稳定使
      用。
、主要性能参数:水冷式水温在25℃,空载时
  7.01.冲击温度范围:      -55℃~+150℃
  7.02.低温槽温度范围:    -70℃~-10
7.03.高温槽温度设定范围: +60℃~+200℃
7.04.高温槽升温速度:     RT(室温)~+200℃ 约55min(室温在10~30℃时)
7.05.低温槽降温速度:     RT(室温)~-55℃ 约65min(室温在10~30℃时)
7.06.温度波动度:         ±1.0℃
7.07.温度偏差:           ±2.0℃
7.08.温度转换时间:       ≤5min  
7.09.高低温暴露时间:     30min以上
7.10.内箱材质:           镜面不锈钢板(SUS #304  1.0mm厚)
7.11.外箱材质:           不锈钢(SUS #304  1.0mm厚)
7.12.试样搁架承载能力:   30KG
  7.13.保温材质:           聚胺脂硬质发泡
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