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产品资料

横向2室全功能老化试验箱

横向2室全功能老化试验箱
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:横向2室全功能老化试验箱
  • 产品型号:C-112
  • 产品展商:YAMATO
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
横向2室全功能老化试验箱
产品描述

 

C-112

 

C-112

用途:全方位地应对半导体封装、晶元BGA/CSP(PBGA/CABGA/LFBGA/SBGA/TABGA)/BSM/SMF等各种**烘烤工艺需求。特征:

  • 可在10级和100级等各种环境中使用,2工作室设置可节约厂房的有效使用空间。氮气使用时的氧气残留量在100PPm以下。
  • 各工作室内置6点温度传感器,分别运行、独立控制,随时使用,全方位对应。
  • 温度调节控制器、氮气导入口、过热保护器、流量控制、外部数据端子、温度记录仪等设备分别独立配置,并能对箱体进行快速冷却,全过程可99段30套编程,全自动运行。

内 装
*
W580 x D650 x H500 mm
固定式两层板架 承重50Kg
背 面
*

门机构(配门锁)
*

安全防冲击垫
*


数据式样:

温度范围

40~260℃

温度分布精度

±5℃

升温时间

50~175℃ 15分以内

外部尺寸

H1883×W1495×D825mm(突起部除く)

内槽尺寸

H500×W580×D650mm

电源规格

三相 220V/改造380V

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