CH－1－S薄膜测厚仪

深诺仪器（深圳）有限公司

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百格刀，粘度计，硬度计，邵氏硬度计，洛氏硬度计，维氏硬度计，铅笔硬度计，针规，刮板细度计，水分仪，恒温水槽，电子天平，推拉力计，等仪器仪表

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第17年

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简单介绍：

CH－1－S薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

详情介绍：

CH－1－S薄膜测厚仪主要参数
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm

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产品名称：CH－1－S薄膜测厚仪