SC630 系列全自动椭圆偏振光谱仪
Psi=±0.01°, Delta=±0.02°
软件功能: 除具备SC610型的全部功能外,还有: 6.具有反射、透射测试功能; 7.模拟产生透射/反射数据; 8.全波长多角度同时数据拟合,EMA模型用于多成分化合物和表面粗糙度分析; 9.具有实验数据和模拟数据三维绘图功能(可选)。
◆测量薄膜膜厚及其光学性质,包括折射率、消光系数、吸收系数、复介电函数等◆测定材料的多层结构和表面粗糙度◆无损地研究与气态、液态周围媒质接触的表面分子或原子的物理、化学吸附状态◆研究处于各种不同环境中的半导体及金属表面的氧化问题◆可现场深入地研究电极-电解液界面过程,并可和其它常规电化学测量方法同步进行◆研究血凝过程、薄膜抗原-抗体的**反应、电吸附**试验和细胞表面的材料测定等◆研究固体的辐射探伤,表征介电材料和半导体材料制备过程中造成的表面机械损伤