日本日置（HIOKI）电容测试仪 3504-50
特点：
C测试仪 3504-60 3504-50/ 3504-40
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
HIOKI 3504-50电容测试仪输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
HIOKI 3504-50电容测试仪基本参数
测量参数
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围
C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000
基本确度
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V测量范围:CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻
5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示
发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
4端子控制检测功能（**3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1