日本日置（HIOKI）高速电容测试仪 3506
特点：
测试仪 3505/ 3506
HIOKI 3505高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪基本参数
测量参数
C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)
测量范围
C:0.00000pF ～ 15.0000mFD: 0.00001 ～ 1.99999Q:0.0 ～ 19999.9
基本确度
（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平
500mV, 1V rms
输出电阻
1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)
显示
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间
代表值: 2.0 ms （ FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大40VA
体积及重量
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1