涡流测厚仪，天星ED400测厚仪
一、天星ED400测厚仪：适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
二、涡流测厚仪，天星ED400测厚仪仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
三、涡流测厚仪，天星ED400测厚仪技术参数
测量范围：
0～500 μm
测量精度：
0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率：
0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可选）
使用温度：
5～45℃
外形尺寸：
150 mm×80 mm×30 mm
重量：
280 g
四、天星ED400测厚仪仪器特点及优势：
1、量程宽 ED400型涡流测厚仪量程达到0～500 μm。
2、精度高 测量精度达到2%。
3、分辨率高 分辨率达到0.1μm。
4、校正简便 只校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。基体导电率影响小，基体材料从纯铝变化到各种铝合
金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。
5、可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。
6、稳定性提高 采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
7、探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。
浙公网安备 33020602000294号
