TPP-01 Short Test Pin Probe 试验短销

TPP-01,Short Test Pin Probe

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称：TPP-01,Short Test Pin Probe
产品型号：试验短销
产品展商：其他品牌
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简单介绍

TPP-01: Short Test Pin Probe 试验短销,符合IEC, EN, UL and CSA标准,(品牌:美国.ED&D)

产品描述

ACCESSIBILITY PROBES 试验探针

FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS

Model TPP-01: Short Test Pin Probe 试验短销

Used to test accessibility through enclosure openings per IEC, EN, UL and CSA Standards. Body is Delrin, tip is stainless steel.

NOTE: Don’t ever purchase an all plastic version - the tip is too narrow to maintain tip rigidity!

美国.ED&D产品服务于:IBM ，美国航空暨太空总署，英代尔，苹果， NCR ，索尼公司，太阳，飞利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托罗拉， Mattel ，戴尔,3 Com 等公司;专为UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等试验室提供检测产品.

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TPP-01,Short Test Pin Probe