首页 >>> 产品目录 >>> ED&D 安规检测 >>> ACCESSIBILITY PROBES,易接近探针
仪表展览网 >>> 展馆展区 >>> 其他仪器仪表及设备 >>> 其他仪器仪表 >>> TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)
> TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)

产品资料

TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)

TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)
  • 产品型号:试验球
  • 产品展商:其他品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
TSP-02,Test Sphere Probe(试验球).符合:IEC529标准IP2要求.品牌:美国.ED&D
产品描述
ACCESSIBILITY PROBES 试验探针
FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS

TSP-02,Test Sphere Probe(试验球)

 

 

This sphere is intended to verify the degree of protection of enclosures for an IP2 Code per IEC 529. Sphere is hardened steel with chrome finish.

美国.ED&D产品服务于:IBM ,美国航空暨太空总署,英代尔,苹果, NCR ,索尼公司,太阳,飞利浦公司,思科, AT&T , Compaq , JVC , Hewlett-Packard ,摩托罗拉, Mattel ,戴尔,3 Com 等公司;专为UL , CSA , ETL , TUV,Demko等试验室提供检测产品.

产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!