·测试种类:常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可编程器件等·被测芯片脚数:40脚以下·测试速度:500KHz/Pin·最大输出电流:每引脚100mA·测试方法:小规模集成电路(SST)、中规模集成电路(MSI),与标准库比较大规模集成电路(LSI),与自学习库比较·提供自建测试的编程语言·提供专用电路板元件测试库(由使用者提出)·显示方式:图形显示(时序波形)、状态显示·V-I特征曲线测试
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