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简单介绍：
CMX多层超声波测厚仪（基体和涂层）测厚仪，（多功能超声波测厚仪）多种测量方式：模式一：仅测量基体厚度模式二：仅测量涂层厚度模式三：同时测量基体和涂层的厚度。
详情介绍：
CMX多层超声波测厚仪（基体和涂层）测厚仪:(多功能超声波测厚仪)
◎      多种测量方式：
模式一：仅测量基体厚度
模式二：仅测量涂层厚度
模式三：同时测量基体和涂层的厚度
 
◎      多种显示模式
1. 数字式显示
2. B扫描显示
3. A扫描显示（仅CMX DL+）
◎      增益可调节：超低、低、中、高、超高
◎      增益值高可到110dB
◎      自动增益控制（AGC）
◎      时间增益校正（TCG）
◎      探头自动识别，自动调零和温度补偿
◎      数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
◎      可存储64个用户参数设置
◎      高速扫查（50次/秒）
◎      高达140HZ的脉冲重复频率
◎      B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
◎      A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
◎     差值测量模式
◎     高速扫查功能可用于快速找到壁厚的小值
◎     上/下限声光报警功能
◎     大值、小值显示
◎     可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
 
 
性能参数
键    盘：12键按键
测量范围：界面波-底波(P-E)方式：  0.63－508mm
               带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
               多层测量(PECT)方式：  0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）    
               穿透涂层测量(E-E)模式：  2.54­—102mm（因涂层的不同会有所变化）
               仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
显示精度：0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）
声速范围：1250－13995m/s
工作温度：-10℃—60℃
探头类型：1—10MHZ双晶探头
探头接口：LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口：RS232接口（配备USB转RS232接头）
电池工作时间：150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）
省电功能：5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏：62╳45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）
外观尺寸：63.5X165X31.5MM
重量：382克
外壳：合金外壳
主机质保两年
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