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简单介绍:
美国LEE INSTRUMENTS公司生产的L160氧化膜测厚仪(涂层测厚仪)采用了世界**的技术,是一种超小型涂层测厚仪,采用涡流法可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
详情介绍:
L160氧化膜测厚仪
1. 只需调零、无需校准;
2. NFe探头;(涡流法)
3. 一体化设计;
4. 自动关机;
5. 用户校验标准过程。

Lee Instruments 涂层测厚仪 L360/L200/L180/L170/L160技术参数

型号
L170
L200
L160
L180
L360
基体
Fe
Fe/NFe
NFe
Fe/NFe
Fe
显示
LCD显示
测量范围
0 — 1250um
0 — 1250um
0 — 200um
0 — 1250um
0 — 6000um
测量精度
(±1-3%H+1um)
显示精度
1um
工作温度
-10 — +60ºC
温度补偿
0 — +50ºC
小基体
10mm×10mm
小曲率
凸半径:5mm;凹半径:25mm。
薄基体
Fe:0.2mm;NFe:0.05mm。
电源
7号电池4节
重量
82g(不含电池)
尺寸
112 ×69×28mm

 

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