产品详情
简单介绍：
美国LEE INSTRUMENTS公司生产的L160氧化膜测厚仪(涂层测厚仪)采用了世界先进的技术，是一种超小型涂层测厚仪，采用涡流法可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
详情介绍：
L160氧化膜测厚仪
1． 只需调零、无需校准；
2． NFe探头；（涡流法）
3． 一体化设计；
4． 自动关机；
5． 用户校验标准过程。
Lee Instruments 涂层测厚仪 L360/L200/L180/L170/L160技术参数
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型号 |
L170 |
L200 |
L160 |
L180 |
L360 |
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基体 |
Fe |
Fe/NFe |
NFe |
Fe/NFe |
Fe |
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显示 |
LCD显示 | ||||
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测量范围 |
0 — 1250um |
0 — 1250um |
0 — 200um |
0 — 1250um |
0 — 6000um |
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测量精度 |
（±1-3%H+1um） | ||||
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显示精度 |
1um | ||||
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工作温度 |
-10 — +60ºC | ||||
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温度补偿 |
0 — +50ºC | ||||
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小基体 |
10mm×10mm | ||||
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小曲率 |
凸半径：5mm；凹半径：25mm。 | ||||
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薄基体 |
Fe：0.2mm；NFe：0.05mm。 | ||||
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电源 |
7号电池4节 | ||||
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重量 |
82g（不含电池） | ||||
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尺寸 |
112 ×69×28mm | ||||
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