hioki C D测试器 3503 上海精测电子有限公司

简单介绍

电容值测试仪 C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量，低价、高效定电压测量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz时 4ms（代表值）的高速测量内置比较器数台同时使用时，相位同步可能附带同时触发输出功能

产品描述

基本参数
测量参数	Cs，Cp，D(tanδ)
测量量程	C:0.940pF～14.500mF(5位数显示) D：0.0001～1.9900
基本精度	C: ±0.1%，D: ±0.0016
测量频率	120Hz或1kHz
测量信号电平	500mV,1Vrms
输出阻抗	0.1Ω以下 120Hz时：～145μF（CV1V），～1.45mF(CV500mV) 1kHz时：～17μF（CV1V），～170mF(CV500mV) 上述以外为5Ω
测量时间	4ms(代表值，因测量条件而异)
直流偏压	通过测量信号可重叠直流电压（需选件单元及外带的定电源）
相位同步	使用数台时的相位同步可能
功能	触发同时输出，测量条件存储，测量值的比较，控制用输出入（EXT.I/O）、RS-232C接口,GP-IB接口（选件）
电源供应	交流100～240V，50/60Hz（可选择）
体积及重量	210宽×100高×168厚mm，2.5kg
附件	电源线（1），保险丝（1）

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