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产品简单介绍
hioki C,D测试器
3503
电容值测试仪 C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量,低价、高效 定电压测量:1V(~17μF)、15mV(~170μF)、1kHz时 4ms(代表值)的高速测量 内置比较器 数台同时使用时,相位同步可能 附带同时触发输出功能
hioki C测试
3501
电容值测试仪 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 单按键操作 与一般测量功能不同,它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
hioki LCR测试器
3535
高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
hioki LCR测试器
3522
测量范围|Z|,R,X 10.00mΩ to 200.00MΩ
hioki LCR测试器
3532
LCR测试仪,基本精度±0.08%,高速测试20ms,显示屏幕放大功能,测试频率可自动设定改变,9442列表机可将测试值及比较结果列印.
hioki LCR测试器
3511
专业,精巧,快速15ms ·高速测量:20MS(1KHZ)或30MS(120HZ) ·高经度:±0.08% ·内建高速比较器,搭配生产器 ·测试测量频率:1KHZ/120HZ切换 ·从0.01PF大容量测量范围 ·搭配9442列表机可将比较结果值列印
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