GT2100A数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼！
GT2100A 数字集成电路多参数筛选测试仪，利用**的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。 数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、**、IC经销商使用。
1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。4． 对IC输入电流、功耗电流测试。5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。6． 测试过程无须人工干预。7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。9． 可以查找未知IC的型号。
在功能测试的基础上
1. 测试器件的输入端注入电流。2.测试器件的输入端交叉漏电流。3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。4. 测试器件的输出负载电流。5. 测试器件的功耗电流。6.查找未知芯片型号。7. 可以单次测试，也可以循环测试.8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。
1.8种可选择的测试电源。2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。3. 多种测试电压比较值。4. 功耗测试。以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。
1.模式O： 全组合参数测试。2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。5.模式F： 自编程测试。
1. 54 系列；4500 系列； 2. RAM 256K bit 3.74 系列；40000 系列；4. EPROM 64K bit 5. 4000 系列；C00 系列。 6.光耦
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