表面/界面性能测定仪 - 北京正通远恒科技有限公司

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	芬兰KSV公司KSV5000 LB膜分析仪系列	1.膜天平测量范围：0 - 125 mN/m 2.膜天平分辨率：4 μN/m 3.沉积速度：1 - 85 mm/min或者 2 - 170 mm/min 4.沉积次数：无限 5.压缩速度：0.01 mm - 400 mm/min

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