新加坡Qtest特性阻抗测试仪CIMS1000
当设计一个PCB板卡的时候,可能遇到特征阻抗超过目标阻抗,或布线的频宽导致高容性问题. 您可能亦想要知道布线间的串音干扰程度如何?
在受很大压力或热的情况下,可能会改变材料的介电常数.如何确认呢?
CIMS可用一简单的模式测量PCB的特征阻抗,以确保正确的介电常数及阻抗控制.
串音干扰(Crosstalk): CIMS1000可测量有效的布线电容及驱动信号上升之信息,即能据此预测并计算串音干扰值的大小(db).
由计算特征阻抗的基本方程Zo=Sqrt(L/C)来看,相同的电感电容比会得到相同的Zo.然而,若增加电容值,则PCB板的布线频率亦会等比例降低.频率的减少会使得PCB故障.
CIMS1000可测量线速,并以该布线100Mhz ~cm长度来表示.
CIMS1000的硬件技术指标
特征阻抗的测量: 特征阻抗范围:20-150ohm
精度:1%校准至标准值 测量需要时间:生产模式0.5sec
量测种类:单端测量模式
串音干扰测量(依据预测算法)
使用者定义之驱动器上升时间
驱动源:使用者可选择 在预测能力下,量测可达-70db
PCB布线频宽与线速量测(仅方波数字信号):
频宽预测:*大30Ghz,从10-90%上升时间
电容/电感量测 电容:0.1pf-10nf@0.1pf
具归零补偿能力 电感:1nH-1uH@1nH