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  • 产品名称：颗粒物监测GD-Profiler 2-探索一个全新的世界

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  • 产品厂商：日本HORIBA
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概要 GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素，包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。
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颗粒物监测GD-Profiler 2-探索一个全新的世界
 

概要

 GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素，包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。

配有RF光源，可以在脉冲模式下检测易碎的样品，GD-Profiler 2™的应用范围从对腐蚀的研究到PVD涂层的工艺控制，在大学被广泛用于常规的金属和合金产品的研究。

特征

  • RF射频发生器- 标准配置，符合E级标准，稳定性高，溅射束斑极为平坦，等离子体稳定时间极短，表面信息无任何失真。
  • 脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜，也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
  • 多道(同时)型光学系统可全谱覆盖，光谱范围：110nm至800nm，包含远紫外，可分析C, H, O, N, Cl
  • HORIBA Jobin Yvon 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有*大光通量，因而有*高的光效率和灵敏度
  • 砖利HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测，动态范围达到10个量级
  • 宽大的样品室方便各类样品的加载
  • 功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
  • 激光指点器(CenterLite laser pointer，砖利申请中)可用于精准加载样品
  • HORIBA Jobin Yvon独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性，可同时测定N+1个元素
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