您好,欢迎来到仪表展览网!
请登录
免费注册
分享
微信
新浪微博
人人网
QQ空间
开心网
豆瓣
会员服务
进取版
标准版
尊贵版
|
设为首页
|
收藏
|
导航
|
帮助
|
移动端
|
官方微信扫一扫
微信扫一扫
收获行业前沿信息
产品
资讯
请输入产品名称
噪声分析仪
纺织检测仪器
Toc分析仪
PT-303红外测温仪
转矩测试仪
继电保护试验仪
定氮仪
首页
产品
知识
专题
词条
品牌
资料
展会
成功案例
网上展会
词多 效果好 就选易搜宝!
深圳市大茂电子有限公司
新增产品
|
公司简介
注册时间:
2006-09-23
联系人:
电话:
Email:
首页
公司简介
产品目录
公司新闻
技术文章
资料下载
成功案例
人才招聘
荣誉证书
联系我们
产品目录
X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)
电磁(涡流)检测仪器
CMI900 X-RAY镀层测厚仪
CMI 900/950 系列X射线荧光测厚仪
CMI700镀铜测厚仪
CMI700系列表面/孔壁铜厚度测量仪
测厚仪
孔铜测厚仪
CMI500孔铜测厚仪
铜箔测厚仪
CMI900镀层测厚仪
CMI700铜厚测试仪
膜厚仪
铜厚测量仪
CM95
当前位置:
首页
>>>
产品目录
>>>
CMI900 X-RAY镀层测厚仪
>>> 
CMI 900/950 系列X射线荧光测厚仪
仪表展览网
>>>
展馆展区
>>>
CMI900X-RAY镀层测厚仪
>
CMI900X-RAY镀层测厚仪
产品资料
CMI900X-RAY镀层测厚仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
CMI900X-RAY镀层测厚仪
产品型号:
CMI900
产品展商:
其它品牌
产品文档:
无相关文档
简单介绍
CMI 900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大 的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品 质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000 中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包, 实现了对CMI900主机的**自动化控制,分析 中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测 定*多5层、15 种元素。数
产品描述
CMI900
系列
先进的材料分析仪器
新型
CMI900
系列即时分析仪代表了牛津仪器(
OXFORD INSTRUMENTS
)镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们
X
线系列产品的性能。
CMI900
系列能够测量极薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。
区别材料并测量氮化钛镀层。
CMI900
系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。
像我们所有的仪器一样,这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供**的服务。
测量和材料分析系统软件
所有
Oxford X
线荧光系统都配备有
Oxford Smartlink FP
系统操作软件包。这是一种基于
windows
的综合性基本参数软件程式。
规格简介
l
无标准效准:
Oxford
支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题
l
包含原子序号
22
至
92
的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体
l
5
层
/15
种元素
/
普通元素效正
l
同时为多达
15
种元素进行成份分析
l
贵重金属分析和金纯度检查
l
材料与合金元素分析
l
材料鉴定与区别
l
吸收测量方式
l
液体分析:分析液体中的金属,如电镀液
l
系统自动调整和效正:效正
X
线导管、探测器和电子设备的变化
l
光谱计数速率峰值位移效正
l
重叠荧光峰值数字峰值反卷
l
定性光谱分析元素
ID
。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱
l
Oxford
统计数字和报告产生器
LE
(轻型)
Oxford SmartLink
补充软件系列
l
Oxford
统计数字和报告产生器
l
配备数据库的
Oxford
统计数字和报告产生器
l
Oxford
即时分析
l
Oxford
材料区别
l
Oxford Percent P
有了
Oxford SmartLink
补充软件系列,您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的
Oxford
统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供:平均值,
S.D.
,*小值,*大值,范围,偏差百分比,控制上限,控制下限,
Cpk
,组织图,
X-bar/R
。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或
CAD
文件,并把它们直接放在品质报告上。
l
配备数据库的
Oxford
统计数字和报告产生器:与上面相同,但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域,其中八个为用户定义域。元件号和日期
/
时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。
l
Oxford
即时分析、材料区别和
Percent P
等选项,能够为您的具体应用优化
CMI900
系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件,以提高系统性能。
激励
l
下视
X
线。
X
线射束
90
度采样
l
风冷微聚焦
X
导管,提供钨、钼和其它阳极。
电力:*大瓦特,
4-50kv
可编程,
0-1.5mA
l
准直管:多个(*多
6
个),可编程,圆形,矩形(我们将帮助您选择适合于您应用的准直管)
l
主要过滤器:提供各种厚度及材料
X
线探测器和信号处理
l
X
线探测器:密封氙气正比计数器;提供其它填充气体
l
探测器过滤器:*多
3
个,
5
个位置,可编程
-
马达驱动;提供钒、铁、锡、和其他元素
l
高速探测器信号处理电子设备,具有峰值位移校正功能
样品处理
l
样品室:密封(
950
系列)或开缝(
900
系列)
l
在
X
、
Y
、
Z
轴上可编程马达驱动控制
l
高清晰度、实时、彩色样品示图,
15
〞
(
38.10cm
)(标准)或
17
〞(43.18cm)(选项)
l
彩色样品图像捕获和打印
l
激光样品聚焦
l
电脑产生十字线,准直管尺寸指示器,用于样品准定位
l
可变聚焦距离控制,以适应变化的样品外型
l
样品变大:选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项
测量
l
鼠标器启动“点击”测量
l
自动测量重复功能
l
**:多用户多级密码保护
电脑
/
处理器
l
oxford
是
IBM
的授权
PC
附加值销售商。请致电
oxford
了解*新的
IBMPC
规格。
IBM
电脑由
IBM
提供
3
年保证
l
打印机:
Epson
或惠普喷墨打印机。请致电
oxford
查询*新的型号和规格。可联网
荣誉
l
由
oxford
拥有
/
管理的国际现场服务团队
l
符合
ISOGuide25
号的要求
CE
标志
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,
欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
相关产品
CMI900X-RAY镀层测厚仪 CMI900
若网站内容侵犯到您的权益,请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除