薄膜测厚仪 CH-1-S

CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规

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产品名称：CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规
产品型号：CH-1-S
产品展商：其它品牌
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简单介绍

东莞奥通仪器设备有限公司专业供应销售CH-1-SCH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规,CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规等产品，欢迎来电咨询CH-1-S薄膜测厚仪-CH-1-S的详细资料！ CH-1-S薄膜测厚仪,测厚仪,薄膜测厚表,CH-1-S 薄膜测厚表适用范围:本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。

产品描述

CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规适用范围:本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。

本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规格参数:
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm

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