薄膜测厚仪,薄膜测厚仪 薄膜测厚仪概述: 本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 薄膜测厚仪主要参数: 1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm 2. 上测头曲率半径:15-50mm 3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N 4. 测量精度:100vm以内<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm
粤公网安备 44190002002515号