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序号
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标 准 编 号
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标 准 名 称
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1
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GB 2423.1—89 |
电工电子产品基本环境试验规程
试验A：低温试验方法 |
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2
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GB 2423.2—89 |
电工电子产品基本环境试验规程
试验B：高温试验方法 |
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3
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GB 2423.4—93 |
电工电子产品基本环境试验规程
试验Db：交变湿热试验方法 |
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4
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GB/T2423.5—1995 |
电工电子产品环境试验**部分：试验方法
试验Ea和导则：冲击 |
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5
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GB/T2423.6—1995 |
电工电子产品环境试验**部分：试验方法
试验Eb和导则：碰撞 |
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6
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GB/T 2423.10—1995 |
电工电子产品环境试验**部分：试验方法
试验Fc和导则：振动（正弦） |
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7
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GB/T 2423.17—93 |
电工电子产品基本环境试验规程
试验Ka：盐雾试验方法 |
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8
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GB/T 2423.21—91
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电工电子产品基本环境试验规程
试验M：低气压试验方法 |
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9
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GB/T 2423.22—87
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电工电子产品基本环境试验规程
试验N：温度变化试验方法 |
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10
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GB/T 2423.23—1995
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电工电子产品基本环境试验规程
试验Q：密封 |
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11
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GB/T 2423.29—82
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电工电子产品基本环境试验规程
试验U：引出端及整体安装件强度 |
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12
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GB 5095.1—85
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
**部分：总则 |
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13
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GB 5095.2—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
**部分：一般检查、电连续性、接触电阻测试、
绝缘试验和电应力试验 |
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14
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GB 5095.3—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第三部分：载流容量试验 |
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15
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GB 5095.4—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第四部分：动态应力试验 |
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16
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GB 5095.5—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第五部分：撞击试验（自由元件）、静负荷试验
（固定元件）、寿命试验和过负荷试验 |
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17
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GB 5095.6—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第六部分：气侯试验和锡焊性试验 |
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18
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GB 5095.7—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第七部分：机械操作试验和密封性试验 |
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19
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GB 5095.8—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第八部分：连接器、接触件及接端的机械试验 |
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20
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GB 5095.9—86
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电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
第九部分：电缆夹紧试验、燃烧危险性试验、
射频电阻试验、电容试验、屏蔽与滤波试验、
磁干扰试验、电容试验、屏蔽与滤波试验、磁干扰试验 |