美国LEE涂层测厚仪 L170+

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产品名称：美国LEE涂层测厚仪
产品型号：L170+/180/1360
产品展商：其它品牌
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简单介绍

美国LEE涂层测厚仪美国LEE 涂镀层测厚仪采用了世界先进的技术，是一种超小型测量仪，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。

产品描述

美国LEE涂层测厚仪
LEE Instruments 160/170+/180/200/360涂层测厚仪

美国LEE Instruments公司设计制造

L180/L200

1． 只需调零、无需校准；

2． Fe/NFe两用探头；

3． 一体化设计；

4． 自动关机；

5． 用户校验标准过程。

L160

1． 只需调零、无需校准；

2． NFe探头；

3． 一体化设计；

4． 自动关机；

5． 用户校验标准过程。

L360/L170+

1． 只需调零、无需校准；

2． Fe大量程探头；

3． 一体化设计；

4． 自动关机；

5． 用户校验标准过程。

Lee Instruments技术参数

型号	L170+	L200	L160	L180	L360
基体	Fe	Fe/NFe	NFe	Fe/NFe	Fe
显示	LCD显示
测量范围	0 — 1250um	0 — 1250um	0 — 200um	0 — 1250um	0 — 6000um
测量精度	（±3%H+1um）
显示精度	1um
工作温度	-10 — +60ºC
温度补偿	0 — +50ºC
*小基体	10mm×10mm
*小曲率	凸半径：5mm；凹半径：25mm。
*薄基体	Fe：0.2mm；NFe：0.05mm。
电源	7号电池4节
重量	82g（不含电池）
尺寸	112 ×69×28mm

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