晶振测试仪 JT-100是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。 具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。 技术参数 测量范围 频率测量：A通道:1Hz～100MHz； B通道:100MHz～1.6GHz 周期测量：A通道:10ns～1s PPM测量：-9999～9999ppm
晶体振荡器测试座： 有贴片和插件2种可选，贴片测试座需要安装在插件测试座上方能使用。