用途 适用于电子、电工产品和其他**设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的*佳助手。 执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法; 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法; 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验; 4、GJB150.5-86温度冲击试验; 5、GJB360.7-87温度冲击试验; 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
1、以上产品外尺寸不包含突出部分,产品尺寸可按客户要求定做; 2、以上技术参数在室温20℃,无负荷条件下测得的数据。 3、突出部分不包含在内部尺寸和外部尺寸内。 4、以上参数如有变动,恕不另行通知。深圳市立信试验设备有限公司。