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全品种集成电路测试仪数据库
集成电路测试仪可根据自己的需要,用性能完好的器件创建ic的测试数据库,以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间,操作十分简单容易。
结果比较型式:
将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:
与数据库中元件比较:被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较。
被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。
软件的灵活性:
1)软件提供测试库图形化修改功能,以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库。
2)软件可以自定义各个通道的使用,一台机器可以同时检测多个器件。
报告:
1)软件可产生一详细的测量报告,包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息;集成电路的动态阻抗图可储存在pc中,并可随时读出,以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便,可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息,包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。
尊敬的客户:
本公司除了有此产品介绍以外,还有电路板故障检测仪, IC测试仪,电能质量分析仪 ,谐波分析仪 ,谐波测试仪等等的介绍,您要是对我司的产品有兴趣,欢迎来电咨询。谢谢!
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