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全品种集成电路测试仪数据库
集成电路测试仪可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。
结果比较型式:
将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:
与数据库中元件比较:被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较。
被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。
软件的灵活性：
1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库。 
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件。
报告：
1)软件可产生一详细的测量报告,包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息;集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出,以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便,可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息,包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

尊敬的客户：
本公司除了有此产品介绍以外，还有电路板故障检测仪， IC测试仪，电能质量分析仪 ，谐波分析仪 ，谐波测试仪等等的介绍，您要是对我司的产品有兴趣，欢迎来电咨询。谢谢!
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