集成电路测试仪

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北京金三航科技发展有限公司
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英国ABI集成电路测试仪 | 三航集成电路测试仪 | 台湾力浦集成电路测试仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	英国ABI-RE1024电路板反求系统 RE1024	RE1024是为高效、专业从电路板上求取高质量的电路图所设计。该系统包括：PC控制多通道硬件测量系统、SYSTEM8 Ultimate控制软件、专业绘图软件三部分。
	ICT-33C集成电路测试仪 ICT-33C	ICT-33C集成电路测试仪器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
	SHtek4250A集成电路测试系统 SHtek4250A	SHtek4250A集成电路测试系统电路是半导体集成电路中的重要组成部分，通用中、小规模集成电路虽己应用多年，但依然在各种民用电子产品和**电子装备中发挥着重要的作用。由于通用中、小规模集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例，其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性
	场效应管综合参数测试仪 shtek3400	场效应管综合参数测试仪产品简介: 本仪器为测试场效应管综合参数的测试仪，可测BVdss 、Vgs（th）、Igss、Idss、Id(on)、Rds、Gfs场效应管静态参数。本仪器是采用计算机控制的智能化的测试仪器，具有测试速度快、操作灵活、使用方便特点，并具有存储测试数据，历史数据查询、打印测试数据等功能。
	shtek2400晶闸管综合参数测试仪 shtek2400	shtek2400晶闸管综合参数测试仪概述：shtek2400型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。shtek2400晶闸管综合参数测试仪参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定。
	英国ABI ChipMaster手持数字集成电路测试仪 ChipMaster	英国ABI ChipMaster手持数字集成电路测试仪集成电路测试仪特点：·可扩充的内装芯片，几乎囊括所有40脚以下的数字芯片和存储器、接口芯片、MCU/MPU，软件不断升级
	ABI手持式线性IC测试器 PT3200	ABI手持式线性IC测试器可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级
	模拟电路多参数筛选测试仪 GT2200A	GT2200A模拟电路多参数筛选测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量。
	数字集成电路筛选测试仪 GT2100A	GT2100A 数字集成电路筛选测试仪，利用**的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
	ICT-33C+集成电路测试仪 ICT-33C+	ICT-33C+集成电路测试仪EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
	LPICT-7A线性IC测试仪 LPICT-7A	LPICT-7A线性IC测试仪16字9×7点阵LCD显示，背光设计，LPICT-7A线性IC测试仪光线**的环境也可以操作自如
	LPICT-6C桌上型数字IC测试器 LPICT-6C	LPICT-6C桌上型数字IC测试器16字9x7点阵LCD显示,背光设计,光线**的环境也可以操作自如。
	掌上型线性IC测试仪器 Lp-2	掌上型线性IC测试仪器可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、N555 Series、Transistor Array 轻小可携带、操作容易，可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使用1000小时
	掌上型数位IC测试仪器 Lp-1	掌上型数位IC测试仪器可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44;掌上型数位IC测试仪器轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电;1．为测试数字 IC而设计 2．可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44 3．轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电 4．设有empty-load测试及自动电源开关装置

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