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IC测试仪系统的主要特点以及功能
IC测试仪系统的主要特点：
存储器IC测试仪。对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。提供多种测试模式。
*高容量64MB，*宽144位，且成本低廉全可编程。  
IC测试仪的主要功能：  
IST6500型存储器功能参数测试仪：
在2NS基频下，提供四种方法自动测试存取时间。 在2NS到160NS的各种器件（DRAM定时参数可编程提供1NS的基频）从而实现实时测试。
兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载，允许用户编程DUT输出口负载，以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要，因为后者须经常驱动，大容量小电阻的负载。 
6500通过RS-232与PC机接口，器机械手接口具有“料箱排序”功能，可将器件按照选定的工作参数进行排序，这在工程元件特性或GO/NO GO测试中很具有典型意义。 IST6500易于编程，且存储有100个不同的用户自定义测试路径，提供了器件的各种工作参数包括存取时间，工作电流，备用电流，数据保持电流，输出负载，DUT电流源，定时参数，测试模式及逻辑阈值的自动引导测试或GO/NO GO测试，同时引导GO/NO GO 测试的参数的预置极限也可存储在程序里。 
6500具备一系列完善的存储测试模式，并向用户提供短/长两种测试模式，它能在*短的时间内完成绝大多数RAM指标的检测。数据测试模式包括：
全1，全0，方格噪声模式，步1，步0，列干扰，滑动斜行，移动倒置，这些模式能检测存储器芯片上及其他地址上的短路，开路或单值错误，也能检测芯片干扰，信号转换放大器干扰及噪声灵敏度错误。 

尊敬的客户：
本公司除了有此产品介绍以外，还有集成电路测试仪，电路板故障检测仪，电能质量分析仪，谐波分析仪，谐波测试仪等等的介绍，您要是对我司的产品有兴趣，欢迎来电咨询。谢谢!


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