IC老化测试座
该产品用于航空航天、**、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用:
产品型号及规格；
IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J（K）宽跨度、IC-40J
主要技术指标； 间距；2.54mm 环境温度；-55℃—+155℃ 绝缘电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金） 插拔寿命；高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
DIP封装集成电路老化测试插座
该产品用于航空航天、**、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用: 产品型号及规格； LJZ-14、16、18、24、28、40
主要技术指标； 间距；2.54mm 环境温度；-55℃—+155℃ 绝缘电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金） 插拔寿命；
DIP封装双列集成电路带板老化测试座
带板LJZ-14、18
混合电路老化测试座
该插座适用于MP-24、32、40型混合电路的老化、测试、筛选及可靠性试验。
MP-24、MP-32、MP-40
主要技术指标；
间距；2.54mm 引线两侧跨度；22。85mm
环境温度；-55℃—+155℃ 绝缘电阻；≤0.01欧
工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg
弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金） 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
晶体管老化测试座
该插座供三脚、四脚晶体管、塑封管高、低温老化、筛选及性能 测试作连接之用；
大功率晶体管插座;F0、F1、F2、F4、TO-3P
**率晶体管插座；CSZ-3、CSZ-4、TO-220 CY-4
小功率晶体管插座；CSX-3、CSX-4
陶瓷系列老化测试座
该陶瓷插座用于金属壳集成电路、双列直插式集成电路及晶体管老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。
1、晶体管插座
小功率晶体管插座CSX-3脚 、CSX-4脚
**率晶体管插座CSZ-3 CSZ-4 TO-220 CY-4
大功率晶体管插座FO F1 F2 TO-3P
2、集成电路插座（金属壳封装）6、8、10、12
3、双列集成电路插座LJZ-8、18
印制板插座
该插座与印制线路板配合使用，也可供电子设备及整机作连结线路之用（CLY402-20K插座的接点间距为4mm，CLY401-14插座接点中心间距为3.94mm).
CLY401-14 CLY402-20K 贴片封装集成电路老化测试夹具
该系列夹具供贴片封装的集成电路老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。
GLB-14 GLB-18 GLB2-18J
SOP型集成电路老化测试夹具
该系列夹具供片状集成电路阻容器件的老化测试筛选作连结之用(间距1.27mm)。
SO-8 SO-16
SMD老化测试夹具
该系列夹具供贴片封装晶体管老化、测试、筛选作连结之用。
SMD-0.5A SMD-1A
印制板式老化测试板设计加工
为用户设计、配套老化测试设备所需各种型号的印制线路板式(高低温及常温)老化测试板。
1、LJZ型双列集成电路老化测试板
2、GLB型贴片封装集成电路老化测试板
3、各种分列器件老化测试板
框架式老化测试板设计加工
为用户设计、配套老化测试设备所需各种型号的框架式 (高低温及常温)老化测试板。