超声波测厚仪 26XTDL

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产品名称：超声波测厚仪
产品型号：26XTDL
产品展商：美国DeFelsko
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简单介绍

26XTDL超声波测厚仪超声测厚美国泛美panametrics 将26MG-XT的特征和数据采集功能相结合,配有RS-232数据输出接口,可与计算机或打印机连接。内置数据存储器用来记录厚度读数,能保存约8000个测量厚度值。

产品描述

超声测厚panametrics 美国泛美26MG-XT/26XTDL系列超声波测厚仪已经停产，替代型号MG2/MG2-XT/MG2-DL超声波测厚仪
26系列超声波测厚仪包括26MG,26MG-XT和26XTDL,操作简单,是测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀,有凹痕,被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--500mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。
     26MG基本型测厚仪的将操作简单,价格低廉和功能齐全三大优点融为一体. 并具有快速小捕捉模式和冻结模式.两节AA5#电池可工作250小时.
    26MG-XT 包括26MG所有功能,附加增益闸门,自动灵敏度优化和高低报警功能.
      26XTDL将26MG-XT的特征和数据采集功能相结合,配有RS-232数据输出接口,可与计算机或打印机连接。内置数据存储器用来记录厚度读数,能保存约8000个测量厚度值。

美国泛美26MG-XT系列超声波测厚仪超声测厚美国泛美panametrics

技术规格	26MG	26MG－XT	26XTDL
显示屏	液晶显示 45X20mm	液晶显示 45X20mm	液晶显示 45X20mm
测量范围	0.5---500mm	0.5---500mm	0.5---500mm
频率范围	1MHZ - 15MHZ (-3dB)	1MHZ - 15MHZ (-3dB)	1MHZ - 15MHZ (-3dB)
声速范围	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec
显示精度	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm
存储装置	无	无	8000组厚度值
波形显示	无	无	无
RF显示	无	无	无
增益闸门	无	高/低任选	高/低任选
回波回波测量	无	无	无
差分测量	无	有	有
高低报警	无	有	有
自动关机	有	有	有
背光	自动/手动(任选)	自动/手动(任选)	自动/手动(任选)
扫描速度	2点/标准 20点/快速	2点/标准20点/快速	2点/标准20点/快速
工作温度	-10-50℃	-10-50℃	-10-50℃
测量温度	-20-500℃	-20-500℃	-20-500℃
探头种类	双晶/自动识别	双晶/自动识别	双晶/自动识别
RS232接口	选件	选件	有
电池	AA 5＃电池×2 工作250小时	AA 5＃电池×2 工作250小时	AA 5＃电池×2 工作250小时
充电器	无	无	无
外型尺寸	64.8 X 128.5 X 29mm	64.8 X 128.5 X 29mm	64.8 X 128.5 X 29mm
重量	0.24Kg	0.24Kg	0.24Kg

美国泛美26MG-XT系列超声波测厚仪超声测厚美国泛美panametrics 可选探头

探头型号	频率	探头尺寸	温度范围	测量范围(钢）
D790	5.0MHz	11.0mm	-20-500℃	1-500mm
D791	5.0MHz	11.0mm	-20-500℃	1-500mm
D791-RM	5.0MHz	11.0mm	-20-400℃	1-500mm
D792	10.0MHz	7.2mm	0-50℃	0.5-25mm
D794	5.0MHz	7.2mm	0-50℃	0.75-50mm
D797	2.0MHz	22.9mm	-20-400℃	2.5-500mm
D7226	7.5MHz	8.9mm	-20-150℃	0.71-100mm
D798	7.5MHz	7.2mm	-20-150℃	0.71-100mm
D799	5.0MHz	11.0mm	-20-150℃	1-500mm
MTD705	5.0MHz	5.1mm	0-50℃	0.75-19mm

相关仪器：频闪仪，超声波测厚仪, 激光测距仪，色差仪，铁素体检测仪，超声波探伤仪，推拉力计，附着力测试仪，测振仪,气体分析仪

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