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产品简单介绍
日本凯特(KETT) LZ-330J涂层测厚仪
日本凯特(KETT) LZ-330J涂层测厚仪 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性*属基体(如铁、合*和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性*属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、相交、油漆、塑料等,有四个统计功能,3124个数据储存,可外接电脑。
LZ-330J日本凯特涂层测厚仪
LZ-330J日本凯特涂层测厚仪本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性*属基体(如铁、合*和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性*属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、相交、油漆、塑料等,有四个统计功能,3124个数据储存,可外接电脑。
膜厚计测量台
LW - 990 膜厚计测量台 尺寸和重量 150(宽)× 210(四)× 280(高)毫米,2.5公斤 支持的传感器 探头: LHP-20/20C/30/30C/J和LEP
LZ-990 膜厚计
LZ-990 膜厚计 测量方法 电磁涡流两用(自动检测) 测量对象 磁性*属上非磁性*属涂层和非磁性 绝缘涂层 测量范围 0-0或2000μm〜80.0mils
LH-370 膜厚计
LH-370 膜厚计LH-370 膜厚计 测量方法 涡流 测量对象 非磁性*属上的绝缘涂层 测量范围 0或1200μm47.0mils
LE-370 膜厚计
LE-370 膜厚计 測定方式 電磁誘導式 測定対象 磁性体上の非磁性被膜 測定範囲 0~2500μmまたは99.0mils
LZ-200W 膜厚度计
LZ-200W 膜厚度计 测量方法 感应/电涡流涡流结合 测量对象 绝缘非磁性*属和磁性*属上非磁性涂层涂料 测量范围 电磁:0或1500μm60.00mils 涡流:0或800μm的32.00mils
日本凯特数显式涂层测厚仪
LH-200J 涂层测厚仪 测量方法 涡流 测量对象 非磁性*属上的绝缘涂层 测量范围 0或800μm的32.00mils 测量精度 小于50μm的:± 1微米,大于50μm以上:± 2%
日本SANKO"三高牌"膜厚计
日本SANKO"三高牌"膜厚计 SME-1电磁诱导,涡电流两用基本型 规格: 量程:电磁式0-900μm~3mm 涡电流式0-900μm 分解度:电磁式1μm(0--900μm) 0. 01mm(1~3mm) 涡电流式1μm(0--900μm)
膜厚计(涂镀层测厚仪)
日本凯特200系列膜厚计(涂镀层测厚仪) 本仪器采用了磁性和涡���两种测厚方法,可无损的测量磁性*属基体(如铁、合*和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性*属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
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