膜厚计/涂层测厚仪 - 上海腾钻精密仪器有限公司

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膜厚计测量台 | 数显式膜厚计

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	日本凯特(KETT) LZ-330J涂层测厚仪	日本凯特(KETT) LZ-330J涂层测厚仪本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性属基体（如铁、合和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性*属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等，有四个统计功能，3124个数据储存,可外接电脑。
	LZ-330J日本凯特涂层测厚仪	LZ-330J日本凯特涂层测厚仪本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性属基体（如铁、合和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性*属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等，有四个统计功能，3124个数据储存,可外接电脑。
	膜厚计测量台	LW - 990 膜厚计测量台尺寸和重量 150（宽）× 210（四）× 280（高）毫米，2.5公斤支持的传感器探头：　 LHP-20/20C/30/30C/J和LEP
	LZ-990 膜厚计	LZ-990 膜厚计测量方法电磁涡流两用（自动检测）测量对象磁性属上非磁性属涂层和非磁性绝缘涂层测量范围 0-0或2000μm〜80.0mils
	LH-370 膜厚计	LH-370 膜厚计LH-370 膜厚计测量方法涡流测量对象非磁性*属上的绝缘涂层测量范围 0或1200μm47.0mils
	LE-370 膜厚计	LE-370 膜厚计測定方式電磁誘導式測定対象磁性体上の非磁性被膜測定範囲 0～2500μmまたは99.0mils
	LZ-200W 膜厚度计	LZ-200W 膜厚度计测量方法感应/电涡流涡流结合测量对象绝缘非磁性属和磁性属上非磁性涂层涂料测量范围电磁：0或1500μm60.00mils 涡流：0或800μm的32.00mils
	日本凯特数显式涂层测厚仪	LH-200J 涂层测厚仪测量方法涡流测量对象非磁性*属上的绝缘涂层测量范围 0或800μm的32.00mils 测量精度小于50μm的：± 1微米，大于50μm以上：± 2％
	日本SANKO"三高牌"膜厚计	日本SANKO"三高牌"膜厚计 SME-1电磁诱导,涡电流两用基本型规格: 量程:电磁式0-900μm～3mm 涡电流式0-900μm 分解度:电磁式1μm(0--900μm) 0. 01mm(1～3mm) 涡电流式1μm(0--900μm)
	膜厚计（涂镀层测厚仪）	日本凯特200系列膜厚计（涂镀层测厚仪）本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性属基体（如铁、合和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性*属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

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