电容测试仪

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苏州兴源电子有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	HIOKI 日置3504-40 C测试仪	HIOKI 日置3504-40 C测试仪,高速测量2ms,能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 HIOKI 日置3504-40 C测试仪,3504-40记录工��，实现高速、低成本的测试
	HIOKI 日置3504-50 C测试仪	HIOKI 日置3504-50 C测试仪,高速测量2ms,能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 HIOKI 日置3504-50 C测试仪,3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
	菊水PFX2400系列超级电容测试仪 (双电层电容器试验)	菊水PFX2400系列超级电容测试仪 (双电层电容器试验)的构件为多个用于超级电容器的专用充放电测试仪。
	HIOKI日置C测试仪3505/ 3506	HIOKI日置C测试仪3505/ 3506 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试反复测量精度更高，*适合生产线校正维修功能，减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示 2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能 HIOKI日置C测试仪3

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