日置3504-50 HIOKI 3504-50

简单介绍

HIOKI 日置3504-50 C测试仪,高速测量2ms,能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 HIOKI 日置3504-50 C测试仪,3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

产品描述

HIOKI 日置3504-50 C测试仪

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

HIOKI 日置3504-50 C测试仪

基本参数

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒定电压模式: 100mV (**3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示	发光二级管（6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能	BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1

(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)

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