PCT加速老化试验箱
一、产品简介
高速老化试验箱|PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
二、PCT加速老化试验箱满足标准
1. IEC60068-2-66
2. JESD22-A102-B
3.EIAJED4701
4.EIA/JESD22
三、高速老化试验箱|PCT加速老化试验箱特点
1.PCT加速老化试验箱采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。
2.PCT高压加速老化测试箱采用指针显示正负压表；时间控制器采LED显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业**容器标准,可防止试验中结露滴水设计.。
4.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
6.pct高压加速老化机自动门禁,圆型门自动温度与压力检知**门禁锁定控制,砖利**门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7.pct高压加速老化机内压力愈大时,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长寿命。
8.临界点LIMIT方式自动**保护,异常原因与故障指示灯显示。
9.**阀，当锅内压力超过*大工作值自动排气泄压。
10.pct高压加速老化机一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
四、高速老化试验箱|PCT加速老化试验箱详细参数
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型 号
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ES-PCT - 25
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ES-PCT - 35
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ES-PCT - 45
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ES-PCT - 65
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内部尺寸(W×H×D)mm
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Φ250×300
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Φ300×450
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Φ450×500
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Φ650×600
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外箱尺寸(W×H×D)mm
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500×500×700
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580×850×650
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800×750×900
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950×900×1100
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使用温度
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121℃；132℃；(143℃特殊选用)
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使用湿度
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100％RH饱和蒸气湿度
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使用蒸气压力(优良压力)
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1个环境大气压 +0.0Kg／cm2 -
2.0Kg／cm2 ；(3.0Kg／cm2属于特殊规格)
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循环方式
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水蒸气自然对流循环
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**保护装置
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缺水保护，超压保护、 (具有自动／手动补水功能，自动泻压功能)
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配 件
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不銹钢隔板两层
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电 源
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AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz
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注:
1. 在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
2. 关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。
3. 温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
4. 温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。
5. 以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170.2、GB5170.5的方法测定。
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